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2012TDLTE测试技术研讨会TDLTE发展及与FDD差距-【资讯】

发布时间:2021-09-03 11:45:08 阅读: 来源:开关套厂家

近日,“2012TD-LTE测试技术研讨会”举办,对TD-LTE的发展以及与FDD的差距等进行研讨。该研讨会由工信部电信研究院和TD技术论坛合办。

近日,TDD频谱根据工信部的新的划分,将包括2.6GHz频段的2500-2690Hz等频谱,这意味着TD-LTE开始迈向商业化。随着这份的调整,以及TD-LTE测试技术的稳步发展,TD-LTE正在稳步发展。TD-LTE首次终端招标结果也已经公布,涉及TD-LTE数据卡、手机等多类终端共3万多终端的采购,16家企业中标。

不过TD-LTE的发展还需要进一步推进,要认识到目前存在的不足,尤其是与FDD相比还存在较大差距。TD-LTE的关键环节是终端芯片和测试仪表,但这同时也是其薄弱环节。目前在测试仪表方面,TD-LTE还无法与FDD相比,但值得庆幸的是TD-LTE终端芯片与FDD差距已经逐渐缩小了。

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